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尚德太阳能组件表现良好PID 特性

作者: | 发布日期: 2012 年 11 月 05 日 10:20 | 分类:

尚德太阳能电力控股有限公司日前宣布,其 Wd 多晶、Wd 单晶和 Ve 多晶系列元件在近期与世界权威的 VDE 测试机构合作的协力厂商测试中表现出良好的抗 PID(电势诱导衰减)特性。

根据 VDE 的测试报告,参与测试的尚德元件产品在一系列的测试之后没有出现较大的功率衰减。此次的所有组件在实验室测试精度范围内其功率输出均未出现明显的变化,其外观也没有发生任何变化。
 
该项严格的测试流程是基于 TUV Rhineland 根据 PID 现象进行开发的测试方法。首先,对元件进行功率测试和EL图片测试;其次,组件在高湿和负 1000V 电压环境下持续一周进行测试;最终对组件进行功率测试和 EL 图片以检测其可能出现的缺陷。
 
由于太阳能系统在不同的环境下高电势对组件的持续作用,会加速组件产品的功率衰减。通过对原材料的仔细筛选、制造工艺的优化、良好的品质控制,尚德极大的降低了由于 PID 带来的组件功率损失风险。

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